技術(shù)文章
Technical articles電容電壓(C-V)特性測(cè)試儀型號(hào):KCV-300
1.概述
KCV-300型電容電壓(C-V)特性測(cè)試儀是測(cè)試頻率為1MHz的數(shù)字式電容測(cè)試儀器。**用于測(cè)量半導(dǎo)體器件PN結(jié)勢(shì)壘在不同偏壓下的電容量,也可測(cè)試其它電容。
儀器有較高的分辨率,電容量是四位讀數(shù),可分辨到0.001pF,偏置電壓分辨率為0.01V,漏電流分辨率為0.01μA。
該測(cè)試儀器性能穩(wěn)定可靠,功能齊全,精度高,操作簡(jiǎn)單,適用于元件生產(chǎn)廠家,科研部門,高等院校等單位。
2. 技術(shù)參數(shù)
(1)測(cè)試信號(hào)頻率:1.000MHz±0.01%
(2)測(cè)試信號(hào)電壓:≤100mVrms
(3)測(cè)量速率:慢3次/秒,快5次/秒
(4)測(cè)量范圍:
電容C:0.001-10000 pF
漏電流:0.1-199.9μA
(5)直流偏壓:儀器自帶偏壓0.01-35V,可外接偏壓源拓展,**大偏壓輸入為100V
(6)預(yù)熱時(shí)間:30min
(7)供電電源:
交流電壓:220V±10%
頻率:50Hz±5%
消耗功率:≤40W
(8)工作環(huán)境
溫度:0-40℃
濕度:20%-90%RH
(9)外形尺寸:400mm×135mm×450mm(寬×高×深)
(10)儀器重量:10Kg